電子設備的光照試驗包含兩個,程序Ⅰ-循環(huán)試驗和程序Ⅱ-穩(wěn)態(tài)試驗。下面,我們來看看對電子設備的光照試驗程序主要有哪些。
試驗設備:環(huán)儀儀器 陽光輻照模擬箱
參考標準:GJB 150.7A-2009和GB/T 2423.24-2022
電子設備光照試驗程序:
1.初始檢測
試驗前所有的試件均需在標準大氣條件下進行檢測,以取得基線數(shù)據(jù),檢測步驟如下所述。
a)將試件安裝在試驗箱內并使它在標準大氣條件下,除規(guī)定為貯存狀態(tài)外,應使試件處于模擬實際使用時的狀態(tài)。
b)對試件進行外觀檢查,特別要注意應力較集中的部位,例如:外殼的彎角處,并記錄檢查結果。
c)根據(jù)需要裝上測定試件相應溫度所需的溫度傳感器。
d)按技術文件的要求對試件做工作檢測,記錄結果。
2.試驗實施
將試件置于試驗箱內,按下圖規(guī)定的試驗條件實時地調節(jié)試驗箱內的空氣溫度,設定輻射燈輻照度,并完成對應的循環(huán)次數(shù)。若要求試件工作,在最后一個循環(huán),當試驗箱溫度達到最大值時,對試件進行工作性能檢查,并記錄結果。
a.循環(huán)試驗
b.穩(wěn)態(tài)試驗
3.性能特性檢測
試驗結束后,試件取出試驗箱后進行檢查,具體的合格判據(jù)如下所述。
a)程序Ⅰ:在溫度峰值條件下和恢復到標準大氣條件后,試件性能和特性的改變不能出現(xiàn)不滿足產品規(guī)范要求的情況。
b)程序Ⅱ:試件性能和特性(例如:顏色或其他表面狀態(tài))的改變不能出現(xiàn)不滿足產品規(guī)范要求的情況。
試驗注意事項:
a)將試件盡可能地置于試驗箱中心,試件表面與任一箱壁之間的距離應不小于0.3m,并且當輻射燈調整到試驗所需的最近位置時,為了防止局部過熱,試件與輻射燈之間的距離應不小于0.76m。
b)除另有規(guī)定外,在客觀條件允許的情況下,試件的取向應使其易損部位朝向輻射燈。
c)同時試驗的幾個試件要相互分開,以確保不會出現(xiàn)試件相互遮擋或妨礙空氣流動的情況,除非這種情況代表了裝備實際使用的狀態(tài)。
d)為了盡量地降低或消除試驗箱內表面的再輻射,試驗箱的容積應至少為試件外殼體積的10倍,光源輻射面積應至少為試樣水平投影面積的4倍。
e)灰塵和其他表面污染物可顯著地改變被輻射表面的吸收特性。除另有規(guī)定外,試驗時應確保試件清潔。
以上就是電子設備的光照試驗程序,如有試驗疑問。可以咨詢環(huán)儀儀器相關技術人員。








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