LED在高溫和電流應力下，LED的封裝和透鏡都發(fā)生老化，顏色發(fā)黃、發(fā)光效率降低和色度參數(shù)特性發(fā)生變化，甚至失效。因此，LED的壽命跟工作條件關系緊密。針對LED在不同電流和溫度應力條件下的老化研究尤為重要，為此，我們做了85℃和125℃下的高溫老化試驗，下面是大致實驗內容。
試驗設備：環(huán)儀儀器 LED熱應力試驗箱
試驗樣品：１W GaN基白光LED
研究內容：LED高溫耐電（HTCD）和高溫存儲（HTS）兩種老化條件的光熱性能變化
實驗過程：
1.對所有樣品在常溫和正常工作電流條件下進行1000h的預老化實驗，目的是剔除光色參數(shù)變化幅度較大的次品，驅動電路如下圖所示。
2.選擇綜合性能穩(wěn)定的樣品并將其分成兩組（每組5顆，編號從1到10）；接著，開展HTCD實驗及HTS實驗。
實驗條件：
1. HTCD 實驗條件為：LED熱應力試驗箱溫度控制在 85±2℃下，工作電流If為 350 mA。此時，測得器件的結溫為125℃。在此條件下，老化1 000 h。
2. HTS 實驗條件為：無加載電流，調節(jié)LED熱應力試驗箱的溫度為 125±2 ℃，使器件結溫與 HTCD 實驗的結果保持一致。以方便比較實驗結果，之后在該溫度下存儲1000 h。兩組實驗同時進行，待實驗完成時樣品在室溫下放置 4 h，然后測試其光、熱性能參數(shù)。
實驗結果：
HTCD 實驗和 HTS 實驗后的硅膠圖
25 ℃和 350 mA 下老化0 h、預老化1000 h和高溫 85 ℃、驅動電流為 350 mA 下老化1000h的輻射功率分布圖
25 ℃和 350 mA 下老化0h、預老化1 000 h和 125 ℃下存儲 1000 h后的光譜功率分布圖
試驗結論：
結果表明，在 HTCD老化下，光通量衰減達到 40~60%;而 HTS下的衰減只有 10~14%。這說明，電流應力對LED的壽命影響比較大。
如對以上試驗有疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關技術人員。
